為了提高x射線密度測(cè)量的精度，研究了光電效應(yīng)對(duì)x射線密度測(cè)井的影響。

**，根據(jù)地層x射線衰減原理，利用XCOM程序，分析了地層x射線康普頓散射和光電效應(yīng)的變化規(guī)律;

其次，在此基礎(chǔ)上研究了光電效應(yīng)對(duì)x射線密度測(cè)井的影響。

第三，提出了利用巖性窗口和密度窗口計(jì)數(shù)計(jì)算地層體積密度來(lái)校正光電效應(yīng)的方法。

最后，通過(guò)MCNP仿真驗(yàn)證了該方法的**性。

結(jié)果表明，光電效應(yīng)是影響x射線密度測(cè)量精度的重要因素，x射線能量越低，光電效應(yīng)對(duì)x射線密度測(cè)量的影響越大，密度測(cè)量精度越低。

由于Cs-137源釋放的γ射線處于高能級(jí)，利用密度窗計(jì)數(shù)計(jì)算地層體積密度時(shí)，光電效應(yīng)的影響基本可以忽略不計(jì);相反，x射線源釋放的x射線處于低能級(jí)，用x射線測(cè)量地層體積密度時(shí)，不能忽略光電效應(yīng)的影響。

地層體積密度計(jì)算方法能**消除光電效應(yīng)的影響，測(cè)量精度達(dá)到0.01g/cm3左右，為x射線密度測(cè)井過(guò)程中準(zhǔn)確測(cè)量密度提供了理論基礎(chǔ)。

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