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          光電材料|退火對(duì)SnS2場效應(yīng)晶體管電學(xué)和光電性能的影響
          發(fā)布時(shí)間:2022-02-17     作者:光電材料   分享到:

          利用剝離的SnS2片制備了SnS2場效應(yīng)晶體管(FET)。


          詳細(xì)研究了真空退火和硫蒸汽退火對(duì)SnS2 FET電學(xué)和光電子性能的影響。


          實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,退火后,尤其是硫蒸汽退火對(duì)SnS2 FET的電學(xué)和光電性能有很大的影響。


          源漏電流隨退火的減小、閾值電壓的漂移以及光電流隨光強(qiáng)變化的指數(shù)函數(shù)都與SnS2的表面狀態(tài)密切相關(guān)。


          與硫空位相關(guān)的圈閉機(jī)制可以很好地解釋這些有趣的特征。


          這些結(jié)果不僅促進(jìn)了目前對(duì)二維材料中光激發(fā)載流子的產(chǎn)生、捕獲和復(fù)合行為的理解,而且激發(fā)了在基于SnS2的光電器件中的潛在應(yīng)用。

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